1x2 FBT 커플러를 유지하는 편광

NSERTION 손실: 입력에서 커플러의 출력으로의 광 전력 감소. 편광 관리 (PM) 장치의 경우,이 측정은 특정 조건에서 빠른 축을 차단 한 상태에서 수행됩니다. 이는 삽입 손실이 느린 축을 통해 전달되는 광에 대해서만 독점적으로 측정되는 반면, 빠른 축은 억제됩니다.
계산 공식 :

멸종 비율 (ER) :슬로우 축과 빠른 축 사이의 출력 전력 비율은 단일 축을 따라 편광을 유지하는 장치의 능력을 나타냅니다.
계산 공식 :

P_{느린 축}​:광 전력은 출력에서 ​​느린 축과 정렬되었습니다.
P_{빠른 축}​:출력에서 빠른 축을 따라 광학 전력.

테스트 방법 :

편광 광원을 사용하고 느린 축을 따라 빛을 발사하십시오.

편광 분리기 (예 : 편광 빔 스플리터, PBS)를 사용하여 출력에서 ​​느리고 빠른 축을 분리하십시오.

느리고 빠른 축의 출력 전력을 각각 측정하십시오.

PDL (편광 종속 손실) :입력 광의 편광 상태가 변할 때 장치의 삽입 손실의 변화.
계산 공식 :

P_맥스: 다양한 편광 상태에서 측정 된 최대 출력 전력.
P_최소: 다양한 편광 상태에서 측정 된 최소 출력 전력.

테스트 방법 :

입력 신호 표시 조절 가능한 편광 상태가있는 광원을 사용합니다.

분극 상태를 회전시켜 최대 및 최소 삽입 손실 값을 관찰하십시오.

최대 및 최소값에 따라 PDL을 계산하십시오.

반환 손실 :반환 손실 (RL)은 장치의 입력 끝에서 입력 전력 (데시벨 DB로 표현 된)으로 반사 된 광 전력의 비율을 나타냅니다. 이는 반사 된 빛을 억제하는 장치의 능력을 반영합니다.
계산 공식 :

P_반품 : 광학 전력은 입력 단자에 다시 반사되었습니다.
P_입력: 입력 광학 전력.

테스트 방법 :OTDR 또는 전용 반사 테스터를 사용하여 장치의 입력 끝에서 반사 된 광 전력을 측정하고 리턴 손실 (RL)을 계산하십시오.


초과 손실 (el) :과도한 손실은 의도 된 커플 링 비율을 초과하는 추가 전력 손실 인 Device-Iie의 입력 전력과 총 출력 전력의 차이를 나타냅니다. 장치의 전체 삽입 손실 (IL)에 직접 영향을 미치고 시스템의 신호 전력 예산에 영향을 미칩니다.
우수한 프로세스 제어는 과도한 손실을 효과적으로 줄여 전반적인 장치 성능을 향상시킬 수 있습니다.
계산 공식 :

P_~에:입력 광 전력
P₁ 그리고 p₂: 두 출력 포트에서 측정 된 출력 광학 작업 (예 : Port1 및 Port2